ams AS5850A 数字X射线平板读取IC

×

描述

TSL237光-频率转换器可将硅光电二极管和电流-频率转换器集成在单片CMOS集成电路上。输出为方波(占空比为50%),频率与光电二极管上的光强度(辐照度)成正比。数字输出能够直接与微控制器或其他逻辑电路接口。输出使能(OE)将输出置于高阻态,以实现对微控制器输入线的多个单元共享。该器件已进行温度补偿,适用于紫外线到可见光范围(320 nm到700 nm),并在320 nm到1050 nm的光范围内响应。TSL237的工作温度范围为-40℃至85℃,采用4引脚ChipLED封装(CL)和紧凑型4引脚表面贴装封装(T)。

详情

特点

  • 线扫描时间低至20 µs,在ADC低OSR模式下为15 µs;分档模式(有效通道数减半)可将读取速度提高至10 µs;有多种参数可选:输入电荷范围、空穴或电子极性、检测器定时、低通滤波器时间常数和线扫描时间;多达三种不同的内部电荷泵周期,用于偏置调整、信号模拟和开关电荷注入补偿;除休眠和完全断电模式外,还有四种电源模式;用于带可编程时间常数的偏置减法的相关双采样

优势

  • 编程选项灵活,可根据应用需求进行优化;适用于各种尺寸的检测器,支持线电容高达200 pF;在噪声、功耗和速度方面具有最佳性能;速度高,适用于动态应用;功耗超低,适用于便携式应用;噪声低,可提供出色的图像质量;温度反馈准确;采用柔性电路板芯片标准封装,可直接集成到检测器中

产品参数

通道
输入
256
Integration time
最小值
15 µs
Input related noise
典型值
500
Power consumption per channel
最小值
3.1 mW
分辨率
16 bit
封装
chip-on-flex
Function
x-ray sensing

下载

产品规格书

Short datasheet

技术文档

环境文档

图片